ALVES CAVALCANTI, Francisco; PEREIRA DOS SANTOS, Luiz Antonio. Efeito do encapsulamento em um VDMOSFET sob feixes de raios X usados em diagnóstico médico . Scientia Plena, [S. l.], v. 18, n. 9, 2022. DOI: 10.14808/sci.plena.2022.094801. Disponível em: https://scientiaplena.emnuvens.com.br/sp/article/view/6566. Acesso em: 21 dez. 2024.